D.K. Konan
Laboratoire de Recherche en Sciences et Technologies Electriques et Energetiques, Institut National Polytechnique Houphouet-Boigny, BP 1093 Yamoussoukro, Cote d’voire
B.K. Koffi
Laboratoire de Recherche en Sciences et Technologies Electriques et Energetiques, Institut National Polytechnique Houphouet-Boigny, BP 1093 Yamoussoukro, Cote d’voire
A. Tanoh
Laboratoire de Recherche en Sciences et Technologies Electriques et Energetiques, Institut National Polytechnique Houphouet-Boigny, BP 1093 Yamoussoukro, Cote d’voire
M. Koffi
Laboratoire de Recherche en Sciences et Technologies Electriques et Energetiques, Institut National Polytechnique Houphouet-Boigny, BP 1093 Yamoussoukro, Cote d’voire
Z. Yeo
Laboratoire de Recherche en Sciences et Technologies Electriques et Energetiques, Institut National Polytechnique Houphouet-Boigny, BP 1093 Yamoussoukro, Cote d’voire
K. Konan
Laboratoire de Recherche en Sciences et Technologies Electriques et Energetiques, Institut National Polytechnique Houphouet-Boigny, BP 1093 Yamoussoukro, Cote d’voire
R.K. N`guessan
Laboratoire de Recherche en Sciences et Technologies Electriques et Energetiques, Institut National Polytechnique Houphouet-Boigny, BP 1093 Yamoussoukro, Cote d’voire
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D.K. Konan, B.K. Koffi, A. Tanoh, M. Koffi, Z. Yeo, K. Konan and R.K. N`guessan, 2009. Application of Young Slits Technique: Measurement of the Phase of the Diffracted Field in Optical Domain. Trends in Applied Sciences Research, 4: 73-78.
URL: https://scialert.net/abstract/?doi=tasr.2009.73.78
URL: https://scialert.net/abstract/?doi=tasr.2009.73.78